Bettersizer S3 Serie - Partikelgrößenmessung und Partikelformanalyse 0,01 – 3.500 µm

Bettersizer S3 Serie - Partikelgrößenmessung und Partikelformanalyse 0,01 – 3.500 µm

Bettersizer S3 Serie

Partikelgrößenmessung und Partikelformanalyse 0,01 – 3.500 µm

Die Bettersizer Serie (bestehend aus den Modellen Bettersizer S3 und S3 Plus) vereint durch ihren einzigartigen und innovativen Aufbau die Messverfahren der statischen Lichtstreuung sowie der dynamischen Bildanalyse und bietet somit eine allumfassende Charakterisierungsmöglichkeit hinsichtlich Partikelgröße und –form vom Nano- bis in den Millimeterbereich.

Mittels der patentierten DLOIOS-Technologie lassen sich auch Nano-Partikel (ab 10 nm) zuverlässig charakterisieren: die zusätzliche Linse zwischen Laser und Probenkammer ermöglicht die Detektion des rückgestreuten Lichtes. Die Verwendung nur eines Lasers liefert ein kontinuierliches Streuspektrum mit konsistenter Wellenlänge, der schräge Lichteinfall gestattet die Detektion im kontinuierlichen Winkelbereich bis 165°.

Da die maximale Streulichtintensität großer Partikel bei nur sehr kleinen Winkel detektiert werden kann, lassen sich diese mit der klassischen statischen Lichtstreuung nur unzureichend genau analysieren. Das Bildanalysesystem des Bettersizer S3 Plus ermöglicht durch die Teilchenerfassung mittels Kamera im Gegensatz zu anderen Laserbeugungssystemen die zuverlässige Detektion größerer Partikel und erlaubt somit realistische Messungen bis 3,5 mm.

Dank der implementierten dynamischen Bildanalyse lassen sich aus den Bildern der Einzelpartikel die wichtigsten Formparameter berechnen – Aspektverhältnis, Zirkularität, Kantenschärfe u.v.m.

Die Formanalyse lässt sich simultan zur Größenanalyse oder autark durchführen. Dabei kann beim Modell Bettersizer S3 Plus zwischen zwei Vergrößerungen zur Bildaufnahme gewählt werden (0,5X und 10X).

Spezifikationen/Merkmale/Vorteile

• Partikelgrößenmessbereich: 0,01 – 3.500 µm*
• integrierte CCD-Kamera (0,5X) zur (wahlweise) deutlich genaueren Detektion grober Partikel bis 3,5 mm, insbesondere Überkorn im Vergleich zur „reinen“ statischen Lichtstreuung
• nur beim Modell Bettersizer S3 Plus: zweite integrierte CCD-Kamera (10X) für die zusätzliche Partikelformanalyse ab ca. 4 μm
• innovative Doppellinsentechnik (DLOIOS) mit extrem breitem Detektorwinkelbereich (0,02° – 165°) und Detektion in Rückstreurichtung zur zuverlässigen Messung auch sehr kleiner Teilchen (> 10 nm)
• Ein-Lasertechnik und damit konsistente Laserwellenlänge (532 nm) für alle Auswertungen
• kurze Messdauer von weniger als einer Minute
• Bestimmung des Brechungsindex
• Standard operation procedures (SOP)
• automatisiertes Dispersions- und Zirkulationssystem
• automatische Zentrierfunktion der Optik vor jeder Messung
• akkurate Kalibrierfunktion
• einfache Bedienung und intuitive Softwareoberfläche
• Export der Ergebnisse in multiplen Formaten wie PDF, .txt, .jpg etc. mit Softwareflexibilität für die Erstellung von Ergebnisberichten und die Archivierung der Messdaten
• 600 ml Standardbadvolumen
• arbeitet konform mit ISO 13320 und 21 CFR-Part 11

* Der Messbereich ist probenabhängig.

Literatur und Normen

/1/ ISO 13320 Particle size analysis – Laser diffraction methods

/2/ ISO 13322-2: Particle size analysis – Image analysis methods – Part 2: Dynamic image analysis methods

/3/ ISO 9276-6 Representation of results of particle size analysis – Part 6: Descriptive and quantitative representation of particle shape and morphology

/4/ CIT (Chemie Ingenieur Technik) 6/2020; „Untersuchung der partikulären Eigenschaften von Sanden hinsichtlich der Eignung zur Betonproduktion“

Optionen zum Messgerät

• Autosampler
• lösemittelbeständige Kleinvolumen-Dispergiereinheit
• externe Ultraschall-Option
• online Dispergiermittelaufbereitung A.R.U.

Weitere Partikelgrößenmessgeräte

• Bettersizer 2600 Statische Lichtstreuung 0,02 – 2.600 µm
• Bettersizer ST Statische Lichtstreuung 0,1 – 1.000 µm
• BeNano Serie Dynamische Lichtstreuung 0,3 nm – 15 µm
• BeVision D2 Dynamische Bildanalyse 2 µm – 10.000 µm
• DT-1202 Akustische Spektroskopie 5 nm – 1.000 µm

• https://www.3p-instruments.com/de/analyzers/bettersizer_s3_series/