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9. - 11. April 2019 // Nürnberg, Germany

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Aussteller & Produkte POWTECH 2019
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Phenom Desktop-Elektronenmikroskope

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Phenom Desktop-Elektronenmikroskope

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Phenom: Desktop-Rasterelektronenmikroskope (REM) in kompakter All-in-One-Bauweise

  • Intuitives Bedienkonzept
  • Abbildungen mittels Rückstreuelektronen- (BSE) und Sekundärelektronen- (SE) Detektor (je nach Gerätetyp)
  • EDX-Analyse (je nach Gerätetyp)
  • High-End Kathode (CeB6) mit langer Lebensdauer und hohem Richtstrahlwert für hochauflösende Untersuchungen bei niedrigen Beschleunigungsspannungen
  • Ultraschnelle Probenladezeit innerhalb einer Minute
  • Integrierte Navigationskamera für "Never-Lost-Navigation"
  • Beschleunigungsspannungen frei wählbar zwischen 4,8 - 20 kV (je nach Gerätetyp)
  • Software zur vollautomatischen Analyse von z.B. Partikeln, Fasern und Poren oder Rauheitsanalysen
  • Geringe Instandhaltungskosten
  • Charge-Reduction Modus zur Untersuchung isolierender Proben ohne Sputtern
  • Hohe Flexibilität durch eine Fülle an Zubehör (z.B. Cooling Stage, euzentrische Tilt- & Rotation Stage, Upgrade-Pakete,Einbindung in das Bilddatenbanksystem  iMagic, etc.)

Phenom proX - Hochauflösendes Elektronenmikroskop mit voll integrierter Mikroanalytik (EDX)

  • Vergrößerungsbereich 80 - 130.000x
  • Probenladezeit < 30 s
  • Auflösung 14 nm an Gold bei 10 kV
  • EDX-Punktmessungen, Mapping und Linescans, vollautomatische Erstellung von Reports
  • Elemente von Bor bis Americium erfassbar
  • Beschleunigungsspannungen 4,8 - 15 kV

Phenom Pro - Hochauflösendes Elektronenmikroskop

  • Vergrößerungsbereich 80 - 130.000x
  • Probenladezeit < 30 s
  • Auflösung 14 nm an Gold bei 10 kV
  • Beschleunigungsspannungen 4,8 - 10 kV
  • Upgrade auf Phenom proX möglich

Phenom Pure und Pure+ - Das Einstiegssystem zu einem attraktiven Preis

  • Für Anwendungen bei denen ein Lichtmikroskop an die Grenzen stößt
  • Vergrößerungsbereich 80 - 30.000x (Pure+: 65.000x)
  • Probenladezeit: < 30 s
  • Auflösung: <30 nm an Gold bei 5 kV (Pure+: < 25 nm an Gold bei 10 kV)
  • Upgrade auf Phenom pro und proX möglich

Phenom XL - Das Desktop-Elektronenmikroskop mit großer Probenkammer

  • Zur Untersuchung ganzer Bauteile oder bis zu 36 Einzelproben auf REM-Probenträgern
  • Sichtbereich bis zu 100 x 100 mm, Tiefe 50 mm
  • Optionaler SE-Detektor                                        
  • 20 kV für quantitative EDX-Analysen schwerer Elemente

Ortsaufgelöste Spektroskopie in Pharmazie und Lebensmitteltechnik

LOGO_Ortsaufgelöste Spektroskopie  in Pharmazie und Lebensmitteltechnik

Scheibenzentrifuge

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