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9. - 11. April 2019 // Nürnberg, Germany

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Aussteller & Produkte POWTECH 2019
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Chemische (Elementar-)Analyse – Röntgenflouresenzanalyse (RFA) – Epsilon | Phasen-/Struktur-Analyse – Röntgendiffraktometrie (XRD) – Aeris

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Chemische (Elementar-)Analyse – Röntgenflouresenzanalyse (RFA) – Epsilon | Phasen-/Struktur-Analyse – Röntgendiffraktometrie (XRD) – Aeris

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Das NEUE Benchtop-Röntgenfluoreszenzspektrometer Epsilon 4 (RFA)

Die neuen, kompakten Epsilon 4 Benchtop-Röntgenfluoreszenzspektrometer bieten schnelle und leistungsstarke Elementaranalysen mit niedrigen Nachweisgrenzen, zur direkten Prozesskontrolle und Qualitätssicherung. Die enorme Leistung und Robustheit der Epsilon 4 EDXRF-Systeme sorgen zuverlässig für normengerechte Analysenergebnisse. Modernste Anregungs- und Detektortechnologien haben die analytische Leistungsfähigkeit von Malvern Panalyticals energiedispersiven Röntgenfluoreszenzgeräten (EDRFA) noch weiter optimiert. Die Epsilon 4 Systeme leisten ausgezeichnete Elementaranalysen über das gesamte Periodensystem hinweg – von Kohlenstoff bis hin zu Americium. Somit bieten sie die Möglichkeit, neue, anspruchsvolle Anwendungen, die traditionell mit ICP oder AAS analysiert werden, mit einer signifikanten Kosteneinsparung durchzuführen. Die Probenvorbereitung für Pulver, feste oder flüssige Proben ist minimal und die Analyse selbst zerstörungsfrei. Damit ist das Epsilon 4 auch ideal für die Elementaranalyse und das Screening von unbekannten Proben.


Benchtop-Röntgendiffraktometer Aeris (XRD)

Die Röntgenbeugungs-Analyse ist bereits seit vielen Jahrzehnten eine Standardmethode zur qualitativen und quantitativen Analyse von (teil)kristallinen Materialien. In den letzten Jahrzehnten entwickelten sich viele Anwendungsfelder, die den kristallinen oder amorphen Zustand der Materialien nutzten, um verschiedene Eigenschaften zu charakterisieren. Hierzu gehört z.B. die Analyse von Kristallitgrößen in Pulvern oder die standardlose quantitative Analyse von Mischungen verschiedenster Materialien. All dies macht heutzutage ein Röntgendiffraktometer in der Entwicklung und Prozesskontrolle praktisch unverzichtbar.

Mit dem neuen Diffraktometer Aeris trägt man den Anforderungen an ein modernes Labor Rechnung. Auf Grund der Konstruktion als kompaktes Tischgerät passt es in jedes Labor und ermöglicht durch ein intuitives Bedienkonzept selbst dem mit der Methode nicht so vertrauten Anwender die Erzielung optimaler Analysenergebnisse. Mit einem schnellen Halbleiterdetektor ist es ein vollwertiges Röntgendiffraktometer und ermöglicht dadurch Ergebnisse, die einem Forschungs-Diffraktometer wie dem Empyrean praktisch nicht nachstehen und die oben erwähnten Anwendungen kompromisslos abdecken. Die spezifischen Editionen Minerals, Cement, Metals und Research für die Bereiche Bergbau, Zementproduktion, Metallherstellung und Forschungslabore z.B. der chemischen Industrie, tragen den verschiedenen Anwendungsbereichen Rechnung.

Nanopartikelgröße, -konzentration & Zetapotenzial – DLS, ELS & NTA – Zetasizer & NanoSight

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Partikelgröße, -form und chemische Identität – Bildanalyse + Raman-Spektroskopie – Morphologi

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Partikelgrößenanalyse – Laserbeugung – Mastersizer 3000 & Insitec

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Rheologische Eigenschaften – Rheometrie – Kinexus

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