LOT-QuantumDesign GmbH

Pharmazeutische Produkte zeigen gut wahrnehmbare und produktspezifische Absorptionsbanden im nahen und kurzwelligen Infrarot. Produkte können unterschieden werden, Fälschungen erkannt und Analysen durch Plastikfolien hindurch erledigt werden. Die ortsaufgelöste Spektroskopie mit SisuCHEMA von Specim ermöglicht die Wirkstoffverteilung und Zusätze von Medikamenten zu erkennen, örtlich zu qualifizieren und quantifizieren und somit die Qualität und Echtheit von Medikamenten zerstörungsfrei zu analysieren. Mit einer zielführenden Software Breeze sind schnell Modelle zu erstellen und online und offline Analysen zu realisieren.

Bei Lebensmitteln bietet die bildgebende Spektroskopie zerstörungsfrei die Möglichkeit Fettgehalt, Zuckeranteil und Proteinbestand online und im Labor zu vermessen. Spektralkameras werden ebenfalls für die Überwachung genutzt und stellen fest, ob Fremdstoffe, wie Schalen oder Verpackungen, in den Lebensmitteln vorkommen.

SisuCHEMA, Specim’s innovative NIR- und SWIR-Imaging Workstation, nutzt einen besonders empfindlichen Detektor und benötigt lediglich bis zu 10 Sekunden um eine Tablette oder eine Gruppe von Tabletten spektral zu untersuchen. Die spektrale Auflösung ist besser als 6 nm, die Ortsauflösung kann bei 30 µm liegen. 

Der Austausch eines Objektivs ermöglicht den Wechsel von mikroskopischen Füllstoffen hin zu großen Objekten. Letztlich ist sogar die Übertragbarkeit in kundenspezifische Online-Analysen gegeben. Das System ist ausgestattet mit einer leistungsfähigen Chemometrie-Software zur Klas­­sifizierung, Quantifizierung und Visua­lisierung.

Auch wenn eine Vielzahl der Sisu­CHEMA-Anwendungen in der pharmazeutischen Forschung, der Pro­zess­kontrolle und Qualitäts­si­che­rung liegen, sind diese ortsaufgelösten Spektralanalysen durchaus in den Be­reichen Life Science, Lebens­mit­tel­­herstellung, Landwirt­schaft und Forensik möglich.

Phenom: Desktop-Rasterelektronenmikroskope (REM) in kompakter All-in-One-Bauweise

• Intuitives Bedienkonzept
• Abbildungen mittels Rückstreuelektronen- (BSE) und Sekundärelektronen- (SE) Detektor (je nach Gerätetyp)
• EDX-Analyse (je nach Gerätetyp)
• High-End Kathode (CeB6) mit langer Lebensdauer und hohem Richtstrahlwert für hochauflösende Untersuchungen bei niedrigen Beschleunigungsspannungen
• Ultraschnelle Probenladezeit innerhalb einer Minute
• Integrierte Navigationskamera für "Never-Lost-Navigation"
• Beschleunigungsspannungen frei wählbar zwischen 4,8 - 20 kV (je nach Gerätetyp)
• Software zur vollautomatischen Analyse von z.B. Partikeln, Fasern und Poren oder Rauheitsanalysen
• Geringe Instandhaltungskosten
• Charge-Reduction Modus zur Untersuchung isolierender Proben ohne Sputtern
• Hohe Flexibilität durch eine Fülle an Zubehör (z.B. Cooling Stage, euzentrische Tilt- & Rotation Stage, Upgrade-Pakete,Einbindung in das Bilddatenbanksystem  iMagic, etc.)

Phenom proX - Hochauflösendes Elektronenmikroskop mit voll integrierter Mikroanalytik (EDX)

• Vergrößerungsbereich 80 - 130.000x
• Probenladezeit < 30 s
• Auflösung 14 nm an Gold bei 10 kV
• EDX-Punktmessungen, Mapping und Linescans, vollautomatische Erstellung von Reports
• Elemente von Bor bis Americium erfassbar
• Beschleunigungsspannungen 4,8 - 15 kV

Phenom Pro - Hochauflösendes Elektronenmikroskop

• Vergrößerungsbereich 80 - 130.000x
• Probenladezeit < 30 s
• Auflösung 14 nm an Gold bei 10 kV
• Beschleunigungsspannungen 4,8 - 10 kV
• Upgrade auf Phenom proX möglich

Phenom Pure und Pure+ - Das Einstiegssystem zu einem attraktiven Preis

• Für Anwendungen bei denen ein Lichtmikroskop an die Grenzen stößt
• Vergrößerungsbereich 80 - 30.000x (Pure+: 65.000x)
• Probenladezeit: < 30 s
• Auflösung: <30 nm an Gold bei 5 kV (Pure+: < 25 nm an Gold bei 10 kV)
• Upgrade auf Phenom pro und proX möglich

Phenom XL - Das Desktop-Elektronenmikroskop mit großer Probenkammer

• Zur Untersuchung ganzer Bauteile oder bis zu 36 Einzelproben auf REM-Probenträgern
• Sichtbereich bis zu 100 x 100 mm, Tiefe 50 mm
• Optionaler SE-Detektor                                        
• 20 kV für quantitative EDX-Analysen schwerer Elemente